Lors de l'utilisation d'un testeur de DDR (RCD) automatisé, il est possible que l'installateur constate des résultats inattendus.
En particulier, un courant de déclenchement de >6mA peut être observé lors d'un test en rampe. Ceci est dû à la façon dont certains testeurs automatiques effectuent le test. Cela ne signifie pas nécessairement qu'il y a une défaillance dans le composant DDR.
Testeur concerné
Des résultats inattendus ont été observés avec le Megger 1741+ et le Fluke 1654B. D'autres testeurs peuvent présenter un comportement similaire.
Explication technique
La norme IEC 62955 spécifie un maximum de 6mA pour un test CC à rampe lente (1mA/s). Les tests effectués par le laboratoire TÜV ont confirmé que la Zaptec Go est conforme à cette exigence :
La norme IEC 62955 spécifie que le temps de déclenchement à 6mA doit être <10s. Les tests du laboratoire TÜV ont confirmé que la Zaptec Go est également conforme à cette exigence :
La norme IEC 62955 spécifie également comment le temps de déclenchement doit varier en fonction du courant continu appliqué. A 60mA, le temps de déclenchement doit être <0.3s et à 200mA le temps de déclenchement doit être <0.1s
Comme le temps de déclenchement requis dépend fortement du courant, le courant de déclenchement mesuré devient donc fortement dépendant du taux de rampe appliqué. Or le test automatisé des testeur ne prend pas toujours cela en compte.
Certains testeurs automatisés appliquent une rampe de courant beaucoup plus rapide (>10mA/s) que celle utilisée dans le test IEC à rampe lente (1mA/s). Cela conduit à une mesure inexacte du courant de déclenchement à rampe lente. Ce comportement a été reproduit avec un testeur DDR Fluke 1654B, qui applique un taux de rampe de 11,3 mA/s. En conséquence, il signale (incorrectement) un niveau de déclenchement de 9-10mA, au lieu de <6mA. Le niveau de déclenchement correct serait mesuré si le taux de rampe appliqué était <1mA/s, comme spécifié dans la norme IEC 62955.
Les testeurs automatisés effectuent effectivement deux mesures distinctes (temps de déclenchement et seuil de déclenchement) au cours d'une seule séquence de test rapide à un taux de rampe plus élevé que celui spécifié par la norme de test. Cela introduit une incertitude significative dans les résultats de mesure et peut conduire à une mesure incorrecte du courant de déclenchement.